AR光波导位姿检测与协同补偿：系统专利率先提升检测效率

国家知识产权局信息显示，武汉精测电子集团股份有限公司;武汉精立电子技术有限公司申请一项名为“AR光波导位姿检测与多机台协同位姿补偿方法及系统”的专利，公开号CN121678140A，申请日期为2026年2月。

专利摘要显示，本发明提供一种AR光波导位姿检测与多机台协同位姿补偿方法及系统，属于智能检测技术领域，方法包括：使用AR光波导标准镜片样品标定位姿检测机台和光学性能检测机台的测试原点，并利用位姿检测机台获取标准样品的参考图像；建立位姿检测机台与光学性能检测机台之间的位移轴齐次变换关系；将待测的AR光波导样品固定于位姿检测机台的测试原点，依次进行法向位姿和水平位姿的检测与补偿，以完成六自由度位姿检测与补偿；将位姿检测机台获得的六自由度位姿补偿信息同步至光学性能检测机台，基于齐次变换关系计算光学性能检测机台的位移轴补偿量，实现位姿协同校准。本发明显著提升AR光波导性能检测的调试与检测效率，并确保检测结果的可靠性。

天眼查资料显示，武汉精测电子集团股份有限公司，成立于2006年，位于武汉市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本27974.5172万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉精测电子集团股份有限公司共对外投资了24家企业，参与招投标项目627次，财产线索方面有商标信息10条，专利信息2108条，此外企业还拥有行政许可5个。

武汉精立电子技术有限公司，成立于2013年，位于武汉市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本26645万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉精立电子技术有限公司共对外投资了3家企业，参与招投标项目106次，财产线索方面有商标信息6条，专利信息1119条，此外企业还拥有行政许可26个。

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作者：情报员